集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)

產(chǎn)品詳情
符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510）
適用范圍：
適用于對各種數(shù)字、模擬、數(shù)?；旌霞呻娐泛?/span>SOC電路、微處理器、存儲(chǔ)器等微電子電路進(jìn)行高溫動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)。
工作特性:
● 一板一區(qū)工作方式，最多可同時(shí)進(jìn)行16種規(guī)格、批次的器件進(jìn)行篩選試驗(yàn)，適應(yīng)多品種、小批量。
● 超溫報(bào)警裝置，確保溫度條件安全施加。
● 可檢測各組電源工作情況及試驗(yàn)箱溫度并描繪其與時(shí)間相關(guān)的曲線。
● 軟件全編輯信號產(chǎn)生方式，可滿足包括存儲(chǔ)器在內(nèi)的多種集成電路器件的動(dòng)態(tài)老化要求。
● 集成的用戶軟件包基于WINDOWS平臺(tái)開發(fā)，功能完備并有良好的可擴(kuò)展性。
●　主從式RS485全雙工高速串行通訊接口，遠(yuǎn)距離通訊能力強(qiáng)，數(shù)據(jù)傳輸安全可靠。
●　試驗(yàn)容量和系統(tǒng)分區(qū)可根據(jù)實(shí)際情況另行配置。
●　試驗(yàn)箱可選擇兩個(gè)小型試驗(yàn)箱，每個(gè)試驗(yàn)箱裝8塊老化板，可同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)溫度條件的試驗(yàn)。
●　可提供專用調(diào)式臺(tái)，具備獨(dú)立的DUT試運(yùn)行接口和維修接口，方便試驗(yàn)前或試驗(yàn)中對DUT和老化板進(jìn)行試驗(yàn)狀態(tài)檢查。

電子電路進(jìn)行高溫動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)。

 技術(shù)性能：