集成電路測(cè)試儀鄭州哪家的質(zhì)量最好？售后怎么樣？公司地址、電話？ 1．工作原理： ICT33c+集成電路測(cè)試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想，以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測(cè)試儀器。它以MCS51單片機(jī)為核心，配合大規(guī)模軟件和外圍擴(kuò)展系統(tǒng)來全面模擬被測(cè)器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則：在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中，邏輯功能是最重要，最根本，最能說明問題的參數(shù)。 2．系統(tǒng)主要構(gòu)成： （1） CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。 （2） 程序存儲(chǔ)器：128K EPROM。 （3） RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。 （4） 顯示器：8位液晶顯示器。 （5） 操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。 （6） 輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。 （7） 機(jī)箱：全塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。 3．主要參數(shù)： （1） 電源電壓：AC220V±15%，50HZ。 （2） 整機(jī)功耗：15VA。 （3） 測(cè)試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。 （4） 編程電壓：12.5V，21V。 （5） 最大測(cè)試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。 （6） 型號(hào)輸入位數(shù)：3——6位。 （7） 適用溫度：0——40℃。 （8） 測(cè)試規(guī)范：輸入短路測(cè)試；輸出短路測(cè)試；100%功能測(cè)試。 （9） 輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。 （10） 輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。 （11） 輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。 （12） 輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。 4.功能綜述 （1） 器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判別其邏輯功能好壞。 （2） 器件型號(hào)識(shí)別：當(dāng)不知被測(cè)器件的型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號(hào)。 （3） 器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 （4） 器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。 （5） 內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對(duì)內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。 （6） 微機(jī)通訊：儀器可通過串行口接受來自微機(jī)的數(shù)據(jù)或?qū)?nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機(jī)。 （7） ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。 （8） ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。 5．適用范圍 ICT33C+具有以下主要用途： （1） 維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。 （2） 破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。 （3） 燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。 （4） 開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。 （5） 檢驗(yàn)新購器件的質(zhì)量。 鄭州市惠美儀器儀表有限公司 聯(lián)系：朱經(jīng)理13017693918 聯(lián)系電話：0371-66227105 QQ:625132122 地址：鄭州市西大街南大街交叉口（管城區(qū)委向南300米） 官網(wǎng)：www.91-17.com