電鍍鍍層膜厚檢測儀

快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度的要求。

方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上最先進的電制冷半導體探測器，測試精度更高，操作使用方便。并且運行成本比同類的其他產品更低。

無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。

測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度，重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。