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公司基本資料信息
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GB/T18271.3/IEC61298-3過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第3部分:影響量影響的試驗(yàn)
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)過程測(cè)量和控制裝置進(jìn)行功能和性能特性試驗(yàn)以及編寫試驗(yàn)報(bào)告的通用方法和程序.本標(biāo)準(zhǔn)適用于任何具有特定的輸入輸出變量之間具有特定關(guān)系的過程測(cè)量和控制裝置,包括模擬裝置和數(shù)字裝置.對(duì)于需要做特殊試驗(yàn)項(xiàng)目的裝置,應(yīng)按照本標(biāo)準(zhǔn)并結(jié)合對(duì)此類特殊試驗(yàn)項(xiàng)目有專門的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn).
引用的標(biāo)準(zhǔn)如下:
GB/T2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 傾斜和翻倒試驗(yàn)
GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)
GB/T17212-1998 工業(yè)過程測(cè)量和控制 術(shù)語和定義
GB/T17214.1-1998 工業(yè)過程測(cè)量和控制裝置 工作條件 第一部分:氣候條件
GB/T17626.2-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.3-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.4-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.5-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.2-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T18271.1-2000 過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序 第一部分:總則
GB/T18271.2-2000 過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序 第二部分:參比條件下的試驗(yàn)
GB/T18271.4-2000 過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序 第四部分:評(píng)定報(bào)告的內(nèi)容