環(huán)境和可靠性試驗室能按以下標準進行試驗：

GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》

GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》

GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗》

GB/T 2423.4-1993《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法》

GB/T 2423.6-1995 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞》

GB/T2423.10-2008《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則 振動(正弦) 》

GB/T2423.11-1997《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Fd：寬頻帶隨機振動－一般要求》

GB/T2423.5-1995《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則: 沖擊》

GB/T 2423.8-1995《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落》

GB/T 2423.11-1997 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬頻帶隨機振動-一般要求》

GB/T 2423.12-1997 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda：寬頻帶隨機振動-高再現(xiàn)性》

GB/T 2423.13-1997《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb：寬頻帶隨機振動-中再現(xiàn)性》

GB/T 2423.14-1997《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗FdC：寬頻帶隨機振動-低再現(xiàn)性》

GB/T 2423.17-1993 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka：鹽霧試驗方法》

GB/T 2423.18-2001　《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化 鈉溶液）》

GB 5080.7-86 《設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案》

GJB150.3-86 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》

GJB150.4-86 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗》

GJB150.5-86 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗》

GJB150.11-86 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗》

GJB150.16-86 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 振動試驗》

GJB150.18-86 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 沖擊試驗》

GJB322A-98 《軍用計算機通用規(guī)范》

GJB367A-2001 《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》

TB/T3058-2002《鐵路應(yīng)用 機車車輛設(shè)備沖擊和振動試驗》

GB6587.1-86《電子測量儀器環(huán)境試驗總綱》

GB6587.2-86《電子測量儀器溫度試驗》

GB6587.3-86《電子測量儀器濕度試驗》

GB6587.4-86《電子測量儀器振動試驗》

GB6587.5-86《電子測量儀器沖擊試驗》

GB6587.6-86《電子測量儀器運輸試驗》等。