深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限公司致力于黃金、鉑金等貴金屬的解決方案，專業(yè)生產(chǎn)了各種型號(hào)的光譜測金儀，力求做到，無損、精確。多年來在珠寶首飾行業(yè)內(nèi)受到廣大用戶的喜愛，銷售額逐年增加，我們的目標(biāo)是為你量身定做一套解決黃金首飾的方案，期待與你的合作。 聯(lián)系人：黃永強(qiáng) 13926523673 QQ：912102707 技術(shù)指標(biāo)： 分析范圍：0.001%～99.999% 測量時(shí)間：自適應(yīng) 測量精度： ± 0.001%--0.1% 分辨率 ：120-170eV at Mn K-aipha 測試環(huán)境：常溫常態(tài) 分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號(hào)還能對從AL至U的所有元素進(jìn)行分析，實(shí)為貴金屬行業(yè)常量分析中的實(shí)驗(yàn)室級(jí)光譜儀。 X射線源：X射線光管 高壓器：4～80Kv 分析：多通道模擬 操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP 鍍層測量： 鍍層厚度范圍<30μm 可測量元素種類：金Au 、銀Ag 、鉑Pt 、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru 、銅Cu 、鋅Zn 、鎳Ni 、鎘Cd、銦In另外對銥Ir,鋨OS等70多種元素。 最大測量層數(shù)：5層 測量精度：0.03μm