鋁電解電容器漏泄是通過向電容施加一個固定電壓，并測量產(chǎn)生的電流測得的，漏流將隨時間呈指數(shù)衰減，因此在測量電流之前，施加電壓必須達(dá)到一個已知的時間周期(保壓時間)。

 與電容器串聯(lián)的電阻器(R)是本測試系統(tǒng)中的一個重要元件。它限制每個電容器的充電電流，并在鋁電容器發(fā)生短路時保護(hù)繼電器。此外，該電阻器還限制回饋安培表的交流增益。

 一般而言，當(dāng)源電容增大時，噪聲增益也會增大。該電阻器將增益限制為有限值。合理的限值是使RC時間常數(shù)為0.5～2秒。與靜電計(pA)的HI端子串聯(lián)的正偏二極管也起到限制交流增益的作用。

鋁電解電容器是幾乎所有電氣設(shè)備上都會用到的主要器件。漏阻是電容器被測試的眾多電氣特征中的一個。

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貼片陶瓷電容系列產(chǎn)品被稱為非溫度補(bǔ)償性元件，即在不同的工作環(huán)境下，電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作環(huán)境下，電容標(biāo)稱值與實(shí)際容值之間的差異。例如，在40℃的測試容量將比25℃的測試容量低了接近20%。由此可見，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下，電容容值的測試值就會顯得偏低。

我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時間，使材料處于穩(wěn)定的測試環(huán)境下在進(jìn)行容值測試。

   貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象

   材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因?yàn)閮?nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后（建議進(jìn)行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour），當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后（常溫25℃下放置24小時）,材料的分子結(jié)構(gòu)將會回到原始的狀態(tài)。材料將由此開始老化的又一個循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)。

   用以上方式驗(yàn)證，把測試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進(jìn)行測試，容值會恢復(fù)到正常范圍之間。

鋁電解電容器本身有電容體積小、電容器的電容量大和性價比高的特點(diǎn)，又隨著現(xiàn)在社會大量消費(fèi)類電子產(chǎn)品的快速更新替換及各工業(yè)上使用的鋁電解電容器快速上升的需求量。

 將來鋁電解電容器在各電子行業(yè)中的應(yīng)用解析及發(fā)展中首要注重鋁電解電容器的電容量要大、電容器的電壓要高、穩(wěn)定性要好要高、壽命要長、能夠耐高溫！

 這樣鋁電解電容器在各電子行業(yè)中才能廣泛應(yīng)用！

 現(xiàn)在各國全世界鋁電解電容器行業(yè)都進(jìn)入了穩(wěn)健性增長的成熟電子元器件行業(yè)之一。

由電子元器件的上下鏈接關(guān)系來解析先看下方鏈接中鋁電解電容器在各電子行業(yè)中的應(yīng)用解析：現(xiàn)在大部分要運(yùn)用到電的設(shè)備或機(jī)器基本上都會需要使用上鋁電解電容器。

 鋁電解電容器產(chǎn)品現(xiàn)在都大量運(yùn)用在焊機(jī)類焊機(jī)電解電容、通信設(shè)備、消費(fèi)類電子產(chǎn)品及高頻電解電容、筆記本電腦/臺式電腦及電腦相關(guān)產(chǎn)品、醫(yī)療儀器設(shè)備。

 各種儀表設(shè)備、自動化控制設(shè)備、汽車行業(yè)及工礦業(yè)、新能源設(shè)備和光電產(chǎn)品及照明電源設(shè)備、列車專用高速鐵路與航空航天及軍事裝備領(lǐng)域等。

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